場發射電子顯微鏡 |
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簡稱 |
FE-SEM |
中文名稱 |
場發射電子顯微鏡 |
英文名稱 |
Cold Field Emission Scanning Electron Microscope |
功能說明 |
1.表面結構之觀察(SEI, BEI) |
儀器廠牌 |
JEOL |
型號 |
JSM-7500F |
儀器規格 |
1.解析度 2.加速電壓範圍:0.1~30 KV 3.電子槍:Cold Field Emission Electron Gun |
主要配件 |
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樣品準備及收費 |
訓練費用($/人)-600元 檢定費用($/人)-300元 委託操作費用($/hr)-600元 試片鍍白金:300/次 EDS 15點以內一律收600元,15點以上,實收每點200元 |
注意事項 |
1.試片不得具有磁性、揮發性、及腐蝕性。 4.自98年9月1日起,場發射電子顯微鏡(FE-SEM)不得拍攝高分子材料,以避免儀器損傷,未事先告知者將馬上停止拍攝,並酌收1500元開機維護費。 |
儀器放置位置 |
紅樓1F 微奈米科技共用實驗室 |